信号完整性是研究信号在传输路径上的质量。这个传输路径通常由芯片的IO、PCB走线、过孔、连接器和电缆等构成。SI测试的目的,就是确保信号从发送端发出,经过这个复杂的路径后,在接收端能够被正确无误地识别。
为什么它如此重要?
随着电子设备速度越来越快(如PCIe 5.0/6.0, DDR5, USB4),电压越来越低,时序裕量变得越来越小。任何微小的信号质量问题都可能导致系统工作不稳定、误码、甚至无法启动。因此,SI测试是高速数字产品设计验证中不可或缺的一环。
有哪些模块要做SI测试?
主板上的所有高速数字信号模块都需要进行SI测试。通常包括以下几个关键模块:
●内存接口:主要是 DDR4 / DDR5,这是主板核心、要求严格的总线之一。
●高速扩展总线:如 PCI Express 插槽。
●芯片间互连总线:如 CPU 与 PCH(芯片组) 之间的 DMI 总线等。
●存储接口:如 SATA / SAS,以及现在的 NVMe SSD 所使用的 PCIe 链路。
●高速网络接口:如 以太网 PHY 的 RGMII / SGMII 接口,或更高速的接口。
●外部设备接口:如 USB,特别是高速USB 3.x/4 和 Type-C。
●时钟信号:系统参考时钟,如 CPU时钟、PCIe时钟 等。虽然它不是数据总线,但其质量直接影响所有相关总线的时序。
●其他特定接口:如 HDMI/DP 视频接口的TMDS链路等。
信号完整性测试项目
不同的模块因其协议和物理特性不同,测试重点也有所侧重,但核心项目是相通的。以下是针对上述模块的关键测试项目:
1. 内存接口 - DDR4/DDR5
读写信号眼图:这是核心的测试。在接收端(通常是CPU内的内存控制器)捕获数据和数据选通信号的眼图,检查眼高、眼宽、抖动等参数是否符合规范。
时序测试:建立时间和保持时间。确保数据信号在时钟/选通信号的有效窗口内是稳定的。
信号单调性:主要针对命令/地址总线,确保信号在跳变过程中没有“回沟”,避免逻辑误判。
过冲/下冲:检查信号幅度是否超过规定的电压范围,可能对器件造成应力损伤。
测试方法:通常使用高速示波器,通过插焊在内存槽上的Interposer板或焊接点测附件来探测信号。
2. 高速扩展总线 - PCI Express
发射端测试:
眼图测试:测试Tx发出的信号质量,包括眼高、眼宽、抖动(随机抖动RJ、确定性抖动DJ)。
抖动分解:详细分析总抖动的构成。
S参数:通过矢量网络分析仪测试通道的插入损耗、回波损耗等,评估通道的频域特性。
接收端测试:
容限测试:使用比特误码率测试仪向Rx注入带有已知压力和抖动的信号,测试Rx在恶劣条件下的容忍能力。
链路均衡测试:对于PCIe 3.0及以上的版本,链路训练过程中的均衡设置至关重要,需要测试各种预设下的信号质量。
3. 芯片间互连 & 存储接口
测试项目与PCIe和DDR类似,主要关注:
眼图质量
时序裕量(建立/保持时间)
信号摆幅
上升/下降时间
对于SATA,会测试其差分信号的眼图张开度;对于NVMe,其物理层就是PCIe,测试方法相同。
4. 外部设备接口 - USB
眼图测试:在指定的测试点捕获差分信号的眼图,确保符合USB-IF的标准掩模。
包速率测试:测试数据包的平均频率。
抖动测试:测量跟踪抖动和随机抖动。
Chirp测试:对于USB 2.0,需要测试设备连接时与主机握手的Chirp信号时序。
测试方法:通常使用USB协议分析仪和配套的测试夹具。

5. 时钟信号
周期到周期抖动
周期抖动
长期抖动
占空比失真
上升/下降时间
时钟信号的干净与否直接影响到使用此时钟的所有数据总线的时序。
6. 通用基础测试项目(几乎所有信号都涉及)
上升时间/下降时间:信号跳变的速度。
过冲和下冲:信号在跳变后超过稳定值的部分。
串扰:邻近信号线之间的有害耦合。需要测试受害网络上的噪声电压。
TDR测试:使用时域反射计测量传输线的特征阻抗,并定位阻抗不连续点的位置(如过孔、连接器处)。
